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相位偏折术原理概述

发布时间:2021-01-06 07:00:00 ,浏览量:1

相位偏折术是一个比较冷门的方向,主要用于测量镜面物体。一直以来,干涉法都是测量镜面最佳方法,精度可以达到波长的几百分之一,但是有一些局限性:
  1. 测量自由面型的镜面物体时,干涉法所需要的光学补偿原件制作复杂且昂贵;

  2. 回程误差,干涉法很难快速标定;

  3. 测量环境苛刻,不适合干涉法测量,因为轻微抖动、温度变化,会给测量记过带来很大误差;

解决:PMD,相位偏折术,对环境不敏感,没有回程误差,因而标定相对简单,可以测量自由曲面。其实偏折术系统跟结构光系统是非常相似的,回顾下它的重建流程:

  1. 标定相机,以及屏幕、相机位置关系

  2. 使用屏幕投影条纹(结构光使用投影仪)

  3. 解码获取表面梯度(结构光直接获取高度)

  4. 梯度积分获取高度信息

额外说明的是,偏折术系统中常说的“精度”达到几纳米,不是传统意义上的“精度”,这是因为偏折术通常用来测量纯镜面反射的物体表面,比如说天文望远镜的镜面,它的模型假设中也假设参考平面跟实测待镜面在同一高度,所以精度甚至可以达到几纳米。

01 原理

单相机PMD系统如图1所示,系统由LCD显示屏、CCD相机和计算机组成:

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